A ToF-SIMS investigation of a buried polymer/polymer interface exposed by ultra-low-angle microtomy
Steven J. Hinder, Chris Lowe, James T. Maxted, John F. WattsТом:
36
Рік:
2004
Мова:
english
Сторінки:
7
DOI:
10.1002/sia.1985
Файл:
PDF, 302 KB
english, 2004