First results of TXRF measurements of low-Z elements on Si...

First results of TXRF measurements of low-Z elements on Si wafer surfaces at the PTB plane grating monochromator beamline for undulator radiation at BESSY II

C. Streli, P. Wobrauschek, B. Beckhoff, G. Ulm, L. Fabry, S. Pahlke

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2001

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1002/xrs.463

Файл:

PDF, 335 KB

english, 2001

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась