A new microfocus x-ray source, iMOXS, for highly sensitive...

A new microfocus x-ray source, iMOXS, for highly sensitive XRF analysis in scanning electron microscopes

A. Bjeoumikhov, V. Arkadiev, F. Eggert, V.-D. Hodoroaba, N. Langhoff, M. Procop, J. Rabe, R. Wedell

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2005

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1002/xrs.872

Файл:

PDF, 236 KB

english, 2005

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась