[IEEE 2016 46th European Microwave Conference (EuMC) -...

[IEEE 2016 46th European Microwave Conference (EuMC) - London, United Kingdom (2016.10.4-2016.10.6)] 2016 46th European Microwave Conference (EuMC) - Self-biasing effects induced by RF step-stress in Ka-band LNAs based on InAlN/GaN HEMT technology

Tartarin, J.G., Nsele, S.D., Piotrowicz, S., Delage, S.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Рік:

2016

Мова:

english

DOI:

10.1109/EuMC.2016.7824617

Файл:

PDF, 366 KB

english, 2016

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась