Metrological evaluation of Structured Light 3D scanning system with an optical feature-based gauge
Cuesta, E., Suarez-Mendez, J.M., Martinez-Pellitero, S., Barreiro, J., Alvarez, B.J., Zapico, P.Том:
13
Рік:
2017
Мова:
english
Журнал:
Procedia Manufacturing
DOI:
10.1016/j.promfg.2017.09.078
Файл:
PDF, 731 KB
english, 2017