[IEEE 2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - San Francisco, CA, USA (2017.12.2-2017.12.6)] 2017 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM) - Smart GaN platform: Performance & challenges
Tsai, Chun-Lin, Wang, Yun-Hsiang, Kwan, M.-H., Chen, P.-C., Yao, F.-W., Liu, S.-C., Yu, J.-L., Yeh, C.-L., Su, R.-Y., Wang, W., Yang, W.-C., Wong, K.-Y., Lin, Y.-S., Lin, M.-C., Wu, H.-Y., Chen, C.-M.Рік:
2017
DOI:
10.1109/IEDM.2017.8268488
Файл:
PDF, 588 KB
2017
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
