[IEEE 2017 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) -...

  • Main
  • [IEEE 2017 IEEE International...

[IEEE 2017 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) - Washington, DC (2017.9.6-2017.9.9)] 2017 IEEE International Ultrasonics Symposium (IUS) - SAW RFID with enhanced penetration depth

Zhao, Xupeng, Shi, Ruchuan, Yang, Yang, Qin, Peng, Ma, Yixin, Wen, Yumei, Han, Tao
Наскільки Вам сподобалась ця книга?
Яка якість завантаженого файлу?
Скачайте книгу, щоб оцінити її якість
Яка якість скачаних файлів?
Рік:
2017
Мова:
english
DOI:
10.1109/ultsym.2017.8092729
Файл:
PDF, 495 KB
english, 2017
Виконується конвертація в
Конвертація в не вдалась