XPS study on oxide ETCH residue and cleaning
Jae Jeong Kim, Eun Gu Lee, Ik Nyun Kim, Woo Shik Kim, Seon Mee KimТом:
9
Мова:
english
Сторінки:
5
DOI:
10.1007/bf02705292
Date:
October, 1992
Файл:
PDF, 498 KB
english, 1992