Statistical MOSFET Modeling Methodology for Cryogenic Conditions
Kabaoglu, Aykut, Solmaz, Nergiz Sahin, Ilik, Sadik, Uzun, Yasemin, Yelten, Mustafa BerkeРік:
2018
Мова:
english
Журнал:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2018.2877942
Файл:
PDF, 2.17 MB
english, 2018
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
