COSS Measurements for Superjunction MOSFETs: Limitations and Opportunities
Zulauf, Grayson D., Roig-Guitart, Jaume, Plummer, James D., Rivas-Davila, Juan M.Рік:
2018
Мова:
english
Журнал:
IEEE Transactions on Electron Devices
DOI:
10.1109/TED.2018.2880952
Файл:
PDF, 2.67 MB
english, 2018
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
