Reconstruction of contact regions in semiconductor transistors using Dirichlet-Neumann cost functional approach
Hrizi, Mourad, Hassine, MaatougЖурнал:
Applicable Analysis
DOI:
10.1080/00036811.2019.1623393
Date:
May, 2019
Файл:
PDF, 3.57 MB
2019
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
