A New Scan Architecture for Both Low Power Testing and Test...

A New Scan Architecture for Both Low Power Testing and Test Volume Compression Under SOC Test Environment

Hong-Sik Kim, Sungho Kang, Michael S. Hsiao

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1007/s10836-008-5062-6

Date:

August, 2008

Файл:

PDF, 490 KB

english, 2008

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась