Development of a Low Temperature Scanning Probe Microscope
Kohta Saitoh, Kenichi Hayashi, Yoshiyuki Shibayama, Keiya ShirahamaТом:
150
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1007/s10909-007-9584-6
Date:
February, 2008
Файл:
PDF, 721 KB
english, 2008
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
