Peculiarities and thermal stability of microstructure and strength properties of Ti–Al–Si–O–C–N films
A. D. Korotaev, D. P. Borisov, V. Yu. Moshkov, S. V. Ovchinnikov, Yu. P. Pinzhin, V. M. Savostikov, A. N. TyumentsevТом:
51
Мова:
english
Сторінки:
10
DOI:
10.1007/s11182-009-9171-1
Date:
November, 2008
Файл:
PDF, 710 KB
english, 2008
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
