Deep levels model identification in semiconductor barrier...

IOP Conference Series Materials Science and Engineering 2020 / 08 Vol. 896

Deep levels model identification in semiconductor barrier structures

Krylov, Vladimir, Tatmyshevskiy, Konstantin, Bogachev, Aleksey
Наскільки Вам сподобалась ця книга?
Яка якість завантаженого файлу?
Скачайте книгу, щоб оцінити її якість
Яка якість скачаних файлів?
Том:
896
Журнал:
IOP Conference Series: Materials Science and Engineering
DOI:
10.1088/1757-899X/896/1/012125
Date:
August, 2020
Файл:
PDF, 914 KB
2020
Виконується конвертація в
Конвертація в не вдалась