Interface control of high-k gate dielectrics on Ge
M. Caymax, M. Houssa, G. Pourtois, F. Bellenger, K. Martens, A. Delabie, S. Van ElshochtТом:
254
Рік:
2008
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1016/j.apsusc.2008.02.134
Файл:
PDF, 686 KB
english, 2008