Interfacial layer quality effects on low-frequency noise (1/f) in p-MOSFETs with advanced gate stacks
P. Srinivasan, F. Crupi, E. Simoen, P. Magnone, C. Pace, D. Misra, C. ClaeysТом:
47
Рік:
2007
Мова:
english
Сторінки:
4
DOI:
10.1016/j.microrel.2007.01.012
Файл:
PDF, 221 KB
english, 2007