Reliability aspects of a radiation detector fabricated by post-processing a standard CMOS chip
Salm, Cora, Blanco Carballo, Victor M., Melai, Joost, Schmitz, JurriaanТом:
48
Мова:
english
Сторінки:
5
Журнал:
Microelectronics Reliability
DOI:
10.1016/j.microrel.2008.06.038
Date:
August, 2008
Файл:
PDF, 486 KB
english, 2008
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
