A New Versatile Testing Interface for Failure Analysis in...

A New Versatile Testing Interface for Failure Analysis in Integrated Circuits

Romain Desplats, Philippe Perdu, Felix Beaudoin

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2001

Сторінки:

DOI:

10.1016/s0026-2714(01)00149-4

Файл:

PDF, 395 KB

2001

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась