Statistical modeling of MOS devices for parametric yield...

Statistical modeling of MOS devices for parametric yield prediction

Juin J. Liou, Qiang Zhang, John McMacken, J.Ross Thomson, Kevin Stiles, Paul Layman

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2002

Мова:

english

Сторінки:

DOI:

10.1016/s0026-2714(01)00262-1

Файл:

PDF, 462 KB

english, 2002

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась