A review of recent MOSFET threshold voltage extraction methods
A. Ortiz-Conde, F.J. Garcı́a Sánchez, J.J. Liou, A. Cerdeira, M. Estrada, Y. YueТом:
42
Рік:
2002
Мова:
english
Сторінки:
14
DOI:
10.1016/s0026-2714(02)00027-6
Файл:
PDF, 275 KB
english, 2002