Laser interferometric method for ns-time scale thermal mapping of Smart Power ESD protection devices during ESD stress
C. Fürböck, M. Litzenberger, D. Pogany, E. Gornik, N. Seliger, T. Müller-Lynch, M. Stecher, H. Goßner, W. WernerТом:
39
Рік:
1999
Мова:
english
Сторінки:
6
DOI:
10.1016/s0026-2714(99)00124-9
Файл:
PDF, 499 KB
english, 1999