X-Ray Diffraction Study of the Ultrathin Al2O3 Layer on...

ChemInform 2004 Vol. 35; Iss. 22

X-Ray Diffraction Study of the Ultrathin Al2O3 Layer on NiAl(110).

A. Stierle, F. Renner, R. Streitel, H. Dosch, W. Drube, Cowie. B. C. Cowie. B. C.

Наскільки Вам сподобалась ця книга?

Яка якість завантаженого файлу?

Скачайте книгу, щоб оцінити її якість

Яка якість скачаних файлів?

Том:

Рік:

2004

Сторінки:

DOI:

10.1002/chin.200422019

Файл:

PDF, 56 KB

2004

Виконується конвертація в

Конвертація в не вдалась