Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Volume 36; Issue 5

Journal of Applied Crystallography

Volume 36; Issue 5
1

Diffraction peak profiles from spherical crystallites with lognormal size distribution

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 357 KB
english, 2003
2

Automatic inference of protein quaternary structure from crystals

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 290 KB
english, 2003
3

A full-pattern fitting algorithm for energy-dispersive X-ray diffraction

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 176 KB
english, 2003
5

Residual stresses in tool steel due to hard-turning

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 637 KB
english, 2003
6

PRIMUS: a Windows PC-based system for small-angle scattering data analysis

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 929 KB
english, 2003
7

Thick-mode resonance of a PZT/Si wafer stack investigated by X-ray diffraction in Bragg geometry

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 293 KB
english, 2003
10

Microscope detection options for colorless protein crystals grown in lipidic cubic phases

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 243 KB
english, 2003
11

General-case data interpretation of spin-echo small-angle neutron scattering

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 178 KB
english, 2003
12

In situ determination of stresses from time-of-flight neutron transmission spectra

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 606 KB
english, 2003
13

Accuracy in Rietveld quantitative phase analysis of Portland cements

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 198 KB
english, 2003
15

A quick and gentle method for mounting crystals in capillaries

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 117 KB
english, 2003
16

SAPI: a direct-methods program for finding heavy-atom sites with SAD or SIR data

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 132 KB
english, 2003
17

Estimation of chord length distributions from small-angle scattering using indirect Fourier transformation

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 252 KB
english, 2003
18

Twinning in La0.95Sr0.05Ga0.9Mg0.1O2.92 crystal studied by white-beam (Laue) X-ray microdiffraction

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 569 KB
english, 2003
20

Scan profiles for neutron spectrometers. II. Rectangular-profile elements by acceptance-diagram methods

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 372 KB
english, 2003
21

Scan profiles for neutron spectrometers. I. Gaussian-profile elements by acceptance-diagram methods

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 279 KB
english, 2003
22

Scan profiles for neutron spectrometers. III. Rectangular-profile elements by numerical methods

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 227 KB
english, 2003
24

Note on Bravais–Miller indices

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 112 KB
english, 2003
25

Investigation of distorted subsurface layers of thick perfect crystals

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 378 KB
english, 2003
26

In situ X-ray diffraction studies of aluminium-induced crystallization of hydrogenated amorphous silicon

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 162 KB
english, 2003
27

Texture and microstructure imaging in six dimensions with high-energy synchrotron radiation

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.52 MB
english, 2003
28

Intensity and resolution effects in converging multichannel collimators for SANS by Monte Carlo simulation

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 553 KB
english, 2003
29

A contribution to the practical implementation of a variable-geometry converging multichannel collimator for SANS

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 406 KB
english, 2003
30

OLEX: new software for visualization and analysis of extended crystal structures

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 137 KB
english, 2003
31

CIF applications. XII. Inspecting Rietveld fits from pdCIF: pdCIFplot

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 276 KB
english, 2003
32

CIF applications. XIII. CIFEDIT, a program for viewing and editing CIFs

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 221 KB
english, 2003
33

CIF applications. XIV. Reporting of Rietveld results using pdCIF: GSAS2CIF

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 189 KB
english, 2003
34

MgCl2.2.5C2H5OH–NaCl mixed crystals

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 118 KB
english, 2003