Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Volume 42; Issue 6

Journal of Applied Crystallography

Volume 42; Issue 6
1

Aspherical electron scattering factors and their parameterizations for elements from H to Xe

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 647 KB
english, 2009
2

PeckCryst: a program for structure determination from powder diffraction data using a particle swarm optimization algorithm

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 336 KB
english, 2009
3

Towards extracting the charge density from normal-resolution data

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.19 MB
english, 2009
5

Dependence of small-angle neutron scattering contrast on the difference in thermal expansions of phases in two-phase alloys

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 522 KB
english, 2009
8

Measurement of stress factors and residual stress of a film by in situ X-ray diffraction during four-point bending

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 602 KB
english, 2009
9

A robotic arm as a simple sample changer for a diffractometer with very low component costs

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 266 KB
english, 2009
10

Test tube for obtaining crystals

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 66 KB
english, 2009
11

A method for the indexation of back-reflection Laue X-ray photographs

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 814 KB
english, 2009
12

Structural studies on carbon nanotube fibres by synchrotron radiation microdiffraction and microfluorescence

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 770 KB
english, 2009
13

Characterization of order domains in γ-TiAl by orientation microscopy based on electron backscatter diffraction

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.23 MB
english, 2009
15

In situ diffraction strain analysis of elastically deformed polycrystalline thin films, and micromechanical interpretation

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 670 KB
english, 2009
16

Simulation of the powder diffraction pattern of randomly restacked Ca2Nb3O10 nanosheets

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 208 KB
english, 2009
17

Design challenges and performance of nested neutron mirrors for microfocusing on SNAP

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 250 KB
english, 2009
18

Energy-dispersive Laue diffraction by means of a frame-store pnCCD

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.05 MB
english, 2009
19

Scherrer grain-size analysis adapted to grazing-incidence scattering with area detectors

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 343 KB
english, 2009
20

Detection of the standing X-ray wavefield intensity inside a thin crystal using back-diffraction topography and imaging

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 433 KB
english, 2009
21

VIBRATE! A program to compute irreducible representations for atomic vibrations in crystals

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 327 KB
english, 2009
23

Grating-based holographic X-ray diffraction: theory and application to confined fluids

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 526 KB
english, 2009
24

Comparison of X-ray and electron backscatter diffraction textures for back-annealed Al–Mg alloys

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.37 MB
english, 2009
25

Basal plane bending of 6H-SiC single crystals observed by synchrotron radiation X-ray topography

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 366 KB
english, 2009
26

The MORPHEUS protein crystallization screen

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 210 KB
english, 2009
27

Development of a shutterless continuous rotation method using an X-ray CMOS detector for protein crystallography

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.47 MB
english, 2009
28

Depth-dependent local structures in thin films unraveled by grazing-incidence X-ray absorption spectroscopy

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 690 KB
english, 2009
29

EXPO2009: structure solution by powder data in direct and reciprocal space

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 971 KB
english, 2009
31

Study of structural defects in ZnGeP2 crystals by X-ray topography based on the Borrmann effect

Журнал:
Journal of Applied Crystallography
Рік:
2009
Мова:
english
Файл:
PDF, 561 KB
english, 2009