Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
пошук статей
статті
Пожертвування:
17.5% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Журнали
Участь
Підтримати
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Відкрити LITERA Point
Volume 18; Issue 1
Main
Solid-State Electronics
Volume 18; Issue 1
Solid-State Electronics
Volume 18; Issue 1
1
Editorial Board
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 89 KB
Ваші теги:
english, 1975
2
An investigation into the behaviour of trapping centres in microplasmas
K.I. Nuttall
,
M.W. Nield
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 895 KB
Ваші теги:
english, 1975
3
Determination of the density and the relaxation time of silicon-metal interfacial states
C. Barret
,
A. Vapaille
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 221 KB
Ваші теги:
english, 1975
4
High-frequency 1ƒ noise of photocurrent and residual conductivity in CdS
N.B. Lukyanchikova
,
A.A. Konoval
,
M.K. Sheinkman
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 523 KB
Ваші теги:
english, 1975
5
Parametric studies and optimization of the beta-voltaic cell—II open-circuit voltage and power efficiencies
Lawrence S. Wei
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 541 KB
Ваші теги:
english, 1975
6
Stationary room temperature MOS-C deep-depletion characteristics
R.F. Pierret
,
D.W. Small
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 628 KB
Ваші теги:
english, 1975
7
On the determination of the minority carrier lifetime from the reverse recovery transient of pnR diodes
David C. Lewis
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 449 KB
Ваші теги:
english, 1975
8
Correction factor for resistivity and Hall mobility measurement of two-layer structures by spreading resistance techniques
L. Gútai
,
T. Vicsek
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 384 KB
Ваші теги:
english, 1975
9
A treatment of impurity diffusion in oxidizing ambients
H. Guckel
,
L.A. Hall
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 438 KB
Ваші теги:
english, 1975
10
The modified fletcher boundary conditions
Allen Nussbaum
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 266 KB
Ваші теги:
english, 1975
11
Comments on the generalized Einstein relation for semiconductors
B.R. Nag
,
A.N. Chakravarti
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 198 KB
Ваші теги:
english, 1975
12
Dielectric film thickness measurement from the reflection relations
M. Sandera
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 236 KB
Ваші теги:
english, 1975
13
IMPATT oscillators with enhanced leakage current
P.E. Cottrell
,
J.M. Borrego
,
R.J. Gutmann
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 921 KB
Ваші теги:
english, 1975
14
The influence of heat treatment and ambient atmosphere on the In-CdS junction photovoltage
C.E. Reed
,
C.G. Scott
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 413 KB
Ваші теги:
english, 1975
15
Die rekombination in thyristoren und gleichrichtern aus silizium: Ihr einfluss auf die durchlasskennlinie und das freiwerdezeitverhalten
J. Burtscher
,
F. Dannhäuser
,
J. Krausse
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Файл:
PDF, 2.36 MB
Ваші теги:
1975
16
A simple formula of the maximum electrical field in an abrupt junction in the presence of an inversion layer
P. Jespers
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
1975
Мова:
english
Файл:
PDF, 147 KB
Ваші теги:
english, 1975
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×