Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Volume 41; Issue 12

Solid-State Electronics

Volume 41; Issue 12
1

High performance pseudomorphic InGaPInGaAs power HEMTs

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 239 KB
english, 1997
3

Optimum Ge profile for base transit time minimization of SiGe HBT

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 277 KB
english, 1997
4

Measuring and calculating the Hall mobility of semiconductor epitaxial layers by a contactless method

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 400 KB
english, 1997
5

n-Channel AlSbGaSb modulation-doped field-effect transistors

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 341 KB
english, 1997
6

Comparison of high speed DI-LIGBT structures

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 398 KB
english, 1997
7

Modelling and characterization of non-uniform substrate doping

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 428 KB
english, 1997
9

Schottky diode characteristics of Ti on strained-Si

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 253 KB
english, 1997
10

Stability of hydrogen in ScAlMgO4

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 232 KB
english, 1997
11

Hole mobility enhancement in strained-Si p-MOSFETs under high vertical field

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 690 KB
english, 1997
12

High performance Schottky contacts on Se-doped AlxGa1−xAs by cryogenic processing

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 333 KB
english, 1997
13

Theory of thermal noise in long-channel MOS transistors operating before saturation

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 715 KB
english, 1997
15

Charge transport in thick SiO2-based dielectric layers

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 689 KB
english, 1997
16

Modulation spectroscopy characterization of InP and GaAs solar cells

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 779 KB
english, 1997
17

Influence of the trench corner design on edge termination of UMOS power devices

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 744 KB
english, 1997
18

Inverse-narrow-width effect of deep sub-micrometer MOSFETs with LOCOS isolation

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 495 KB
english, 1997
19

Wet chemical etching survey of III-nitrides

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 350 KB
english, 1997
20

A simple analytical model of counter doping in a uniformly and heavily doped channel region of MOSFETS

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 712 KB
english, 1997
21

Induced gate noise in MOSFETs revisited: The submicron case

Рік:
1997
Мова:
english
Файл:
PDF, 444 KB
english, 1997