Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Volume 45; Issue 1

Solid-State Electronics

Volume 45; Issue 1
2

Inductively coupled high-density plasma-induced etch damage of GaN MESFETs

R.J Shul, L Zhang, A.G Baca, C.G Willison, J Han, S.J Pearton, K.P Lee, F Ren
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 208 KB
english, 2001
3

Ultimate parameters of Hg1–xCdxTe and InAs1–xSbx n+–p photodiodes

T Niedziela, R Ciupa
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 156 KB
english, 2001
4

Comparison of MOSFET-threshold-voltage extraction methods

Kazuo Terada, Katsuhiko Nishiyama, Kei-Ichi Hatanaka
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 227 KB
english, 2001
5

Emitter structure of power heterojunction bipolar transistor for enhancement of thermal stability

J.G. Lee, T.K. Oh, B. Kim, B.K. Kang
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 144 KB
english, 2001
6

A physically-based semi-empirical effective mobility model for MOSFET compact I–V modeling

K.Y. Lim, X. Zhou
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 173 KB
english, 2001
8

A ‘channel’ design using single, semiconductor nanocrystals for efficient (opto)electronic devices

J.S. Salafsky
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 154 KB
english, 2001
9

Electrical characterization of ONO triple dielectric in SONOS nonvolatile memory devices

Jiankang Bu, Marvin H White
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 156 KB
english, 2001
10

Experimental investigation of factors influencing design of small-signal CMOS amplifiers

Emerson Vernon, Damian Bryson, Abhishek Motayed, S Noor Mohammad
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 225 KB
english, 2001
11

Thermal effect on electromigration performance for Al/SiO2, Cu/SiO2 and Cu/low-K interconnect systems

W. Wu, S.H. Kang, J.S. Yuan, A.S. Oates
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 115 KB
english, 2001
14

Physical parameters of the quantum mechanical interference method for the determination of oxide thickness in MOS devices

H. Katto
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 197 KB
english, 2001
15

Analysis of surface and interface charge interactions in silicon on insulator (SOI) substrates

L. Lukasiak, P. Roman, A. Jakubowski, J. Ruzyllo
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 248 KB
english, 2001
16

Low dark current far infrared detector with an optical cavity architecture

A.L Korotkov, A.G.U Perera, W.Z Shen, H.C Liu, M Buchanan
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 406 KB
english, 2001
18

Extraction of Schottky diode parameters with a bias dependent barrier height

V. Mikhelashvili, G. Eisenstein, R. Uzdin
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 263 KB
english, 2001
20

Electrical transport characteristics of Au/n-GaAs Schottky diodes on n-Ge at low temperatures

M.K Hudait, P Venkateswarlu, S.B Krupanidhi
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 251 KB
english, 2001
21

Design considerations in scaled SONOS nonvolatile memory devices

Jiankang Bu, Marvin H White
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 220 KB
english, 2001
25

A dynamic n-buffer insulated gate bipolar transistor

S Huang, K Sheng, F Udrea, G.A.J Amaratunga
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 380 KB
english, 2001
28

A process simplification scheme for fabricating self-aligned silicided trench-gate power MOSFETs

M.H Juang, L.C Sun, W.T Chen, C.I Ou-Yang
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 122 KB
english, 2001
29

List of Reviewers

Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Файл:
PDF, 34 KB
2001
30

Publisher's note

Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 23 KB
english, 2001
31

Editorial

F.M Klaassen
Журнал:
Solid-State Electronics
Рік:
2001
Мова:
english
Файл:
PDF, 26 KB
english, 2001