Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024 Про збір коштів

Volume 47; Issue 5

Solid-State Electronics

Volume 47; Issue 5
1

A self-consistent model for small-signal parameters and noise performance of InAlAs/InGaAs/InAlAs/InP HEMTs

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 137 KB
english, 2003
3

Capacitance–voltage measurements on ultrathin gate dielectrics

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 123 KB
english, 2003
4

Investigation of degradation mechanism of Schottky diodes

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 134 KB
english, 2003
6

Modeling of clustering reaction and diffusion of boron in strained Si1−xGex epitaxial layers

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 321 KB
english, 2003
7

A model of radiation effects in nitride–oxide films for power MOSFET applications

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 183 KB
english, 2003
8

Fabrication and characteristics of polymeric thin-film capacitor

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 134 KB
english, 2003
11

Microwave power SiC MESFETs and GaN HEMTs

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 415 KB
english, 2003
12

Nonvolatile memory disturbs due to gate and junction leakage currents

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 699 KB
english, 2003
13

Zn doping into InP induced by Nd: YAG continuous wave laser

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 109 KB
english, 2003
14

A nonlocal channel thermal noise model for nMOSFETs

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 148 KB
english, 2003
15

InGaN/GaN light emitting diodes with Ni/Au, Ni/ITO and ITO p-type contacts

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 242 KB
english, 2003
16

Visible–blind GaN p–i–n photodiodes with an Al0.12Ga0.88N/GaN superlattice structure

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 136 KB
english, 2003
18

All-polymer RC filter circuits fabricated with inkjet printing technology

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 521 KB
english, 2003
20

Minority carrier lifetime and diffusion length in Si1−x−yGexCy heterolayers

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 108 KB
english, 2003
23

Characterization of SONOS oxynitride nonvolatile semiconductor memory devices

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 230 KB
english, 2003
26

Investigation of the electrical degradation of a metal–oxide–silicon capacitor by scanning thermal microscopy

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 255 KB
english, 2003
27

Topology investigation for the low frequency noise compact modelling of bipolar transistors

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 110 KB
english, 2003
28

Harmonic and intermodulation distortion in SOI FD transistors

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 82 KB
english, 2003
30

Matrix representation of shot noise due to carrier generation in planar double Schottky-barrier structures

Рік:
2003
Мова:
english
Файл:
PDF, 102 KB
english, 2003