Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
пошук статей
статті
Пожертвування:
62.0% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Журнали
Участь
Підтримати
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Відкрити LITERA Point
Volume 26; Issue 4
Main
Surface and Interface Analysis
Volume 26; Issue 4
Surface and Interface Analysis
Volume 26; Issue 4
1
Oxidation of molybdenum surfaces by reactive oxygen plasma and O2+ bombardment: an auger and XPS study
López-Carreño, L. D.
,
Benítez, G.
,
Viscido, L.
,
Heras, J. M.
,
Yubero, F.
,
Espinós, J. P.
,
González-Elipe, A. R.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 403 KB
Ваші теги:
english, 1998
2
Oxidation of ternary TiZrN hard coatings studied by XPS
Milošev, I.
,
Strehblow, H.-H.
,
Navinšek, B.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 280 KB
Ваші теги:
english, 1998
3
Accuracy of the non-destructive surface nanostructure quantification technique based on analysis of the XPS or AES peak shape
Tougaard, S.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 478 KB
Ваші теги:
english, 1998
4
Effect of RCA cleaning on the surface chemistry of glass and polysilicon films as studied by ToF-SIMS and XPS
Onyiriuka, E. C.
,
Moore, C. B.
,
Fehlner, F. P.
,
Binkowski, N. J.
,
Salamida, D.
,
King, T-J.
,
Couillard, J. G.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 232 KB
Ваші теги:
english, 1998
5
High-resolution x-ray photoelectron spectroscopy of aliphatic hydrocarbons
Thomas, Elizabeth A.
,
Carrick, Alan R.
,
Fulghum, Julia E.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 294 KB
Ваші теги:
english, 1998
6
Concentration-depth calibration and bombardment-induced impurity relocation in SIMS depth profiling of shallow through-oxide implantation distributions: a procedure for eliminating the matrix effect
Wittmaack, K.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 429 KB
Ваші теги:
english, 1998
7
Aluminium deposition on SF6 plasma-treated polycarbonate: an AFM, XPS and mass spectroscopy study
Seidel, C.
,
Gotsmann, B.
,
Kopf, H.
,
Reihs, K.
,
Fuchs, H.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 416 KB
Ваші теги:
english, 1998
8
Characterization of polyimide Langmuir-Blodgett films on silver using infrared, Raman and x-ray photoelectron spectroscopies
Zhao, W. W.
,
Boerio, F. J.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 425 KB
Ваші теги:
english, 1998
9
Determination of the surface coverage of Mo/TiO2 catalysts by ISS and CO2 chemisorption
Rondon, Sonia
,
Houalla, Marwan
,
Hercules, David M.
Журнал:
Surface and Interface Analysis
Рік:
1998
Мова:
english
Файл:
PDF, 287 KB
Ваші теги:
english, 1998
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×
