Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024
Про збір коштів
пошук книг
книги
пошук статей
статті
Пожертвування:
14.8% досягнуто
Увійти
Увійти
авторизованим користувачам доступні:
персональні рекомедації
Telegram бот
історія завантажувань
надіслати на Email чи Kindle
управління добірками
зберігання у вибране
Особисте
Запити на книги
Вивчення
Журнали
Участь
Підтримати
Litera Library
Пожертвувати паперові книги
Додати паперові книги
Відкрити LITERA Point
Volume 28; Issue 1
Main
IEEE Design & Test of Computers
Volume 28; Issue 1
IEEE Design & Test of Computers
Volume 28; Issue 1
1
Fast-Write Resistive RAM (RRAM) for Embedded Applications
Shyh-Shyuan Sheu
,
Kuo-Hsing Cheng
,
Meng-Fan Chang
,
Pei-Chia Chiang
,
Wen-Pin Lin
,
Heng-Yuan Lee
,
Pang-Shiu Chen
,
Yu-Sheng Chen
,
Tai-Yuan Wu
,
Chen, F.T.
,
Keng-Li Su
,
Ming-Jer Kao
,
Ming-Jinn Tsai
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 775 KB
Ваші теги:
english, 2011
2
Scalable Spin-Transfer Torque RAM Technology for Normally-Off Computing
Kawahara, T.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 2.25 MB
Ваші теги:
english, 2011
3
Contents
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 352 KB
Ваші теги:
english, 2011
4
Design Automation Technical Committee Newsletter
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 459 KB
Ваші теги:
english, 2011
5
Design for manufacturability: Then and now
Kahng, A.B.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 115 KB
Ваші теги:
english, 2011
6
EDA: Synergy or sum of the parts? [review of "Electronic Design Automation: Synthesis, Verification and Test (Systems on Silicon" (Wang, L.-T., Eds., et al; 2009)]
Markov, Igor L.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 181 KB
Ваші теги:
english, 2011
7
Embedded Memories: Progress and a Look into the Future
Itoh, K.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 397 KB
Ваші теги:
english, 2011
8
Embedded memory technologies: Present and future
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 167 KB
Ваші теги:
english, 2011
9
Evolution of EDA standards worldwide
Krolikoski, S.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 989 KB
Ваші теги:
english, 2011
10
[Front cover]
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Файл:
PDF, 7.48 MB
Ваші теги:
2011
11
[Front cover]
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Файл:
PDF, 6.23 MB
Ваші теги:
2011
12
Masthead
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 47 KB
Ваші теги:
english, 2011
13
Embedded DRAM in 45-nm Technology and Beyond
Anand, D.L.
,
Gorman, K.W.
,
Jacunski, M.D.
,
Paparelli, A.J.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 563 KB
Ваші теги:
english, 2011
14
Guest editors' introduction: Nanoscale Memories Pose Unique Challenges
Kim, Chris H.
,
Chang, Leland
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 830 KB
Ваші теги:
english, 2011
15
[Advertisement - Back cover]
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Файл:
PDF, 3.08 MB
Ваші теги:
2011
16
[Advertisement - Back cover]
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Файл:
PDF, 1.71 MB
Ваші теги:
2011
17
Bit Cell Optimizations and Circuit Techniques for Nanoscale SRAM Design
Hamzaoglu, F.
,
Yih Wang
,
Kolar, P.
,
Liqiong Wei
,
Yong-Gee Ng
,
Bhattacharya, U.
,
Zhang, K.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 298 KB
Ваші теги:
english, 2011
18
Call for Papers
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 39 KB
Ваші теги:
english, 2011
19
Call for Papers
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 38 KB
Ваші теги:
english, 2011
20
CEDA Currents
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 91 KB
Ваші теги:
english, 2011
21
Conference Reports
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.28 MB
Ваші теги:
english, 2011
22
Challenges and Directions for Low-Voltage SRAM
Qazi, M.
,
Sinangil, M.E.
,
Chandrakasan, A.P.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 4.33 MB
Ваші теги:
english, 2011
23
Modeling, Architecture, and Applications for Emerging Memory Technologies
Yuan Xie
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 1.37 MB
Ваші теги:
english, 2011
24
Playing together nicely
Davidson, S.
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 78 KB
Ваші теги:
english, 2011
25
Test Technology TC Newsletter
Журнал:
IEEE Design & Test of Computers
Рік:
2011
Мова:
english
Файл:
PDF, 657 KB
Ваші теги:
english, 2011
1
Перейдіть за
цим посиланням
або знайдіть бот "@BotFather" в Telegram
2
Надішліть команду /newbot
3
Вкажіть ім'я для вашого боту
4
Вкажіть ім'я користувача боту
5
Скопіюйте останнє повідомлення від BotFather та вставте його сюди
×
×