Briste: шукати на сайті Z-Library

Найбільша колекція наукових статей у сіті. 70,000,000+ безкоштовних статей.

Пожертвування 15 вересня 2024 – 1 жовтня 2024

Z-Library - одна з найбільших онлайн-бібліотек у світі, в якій зберігається більше 17,000,000 книг та 84,837,000 статей. Ми намагаємось зробити літературу доступною кожному. Сьогодні (15 вересня 2024) ми відкриваємо додатковий збір пожертвувань на підтримку та розвиток проекту.

Також БЕЗЛІМТНІ завантаження (протягом 31 дня після завершення пожертвування) доступні для ВСІХ користувачів, які підтримають проект в період збору коштів до 1 жовтня 2024.

Про збір коштів Детальніше

Підтримати

Книги
Статті (91)
Найпопулярніші
Перелік
- Перелік
- Таблиця

Where words fail, music speaks : the impact of participatory music on the mental health and wellbeing of asylum seekers

Lenette, Caroline, Weston, Donna, Wise, Patricia, Sunderland, Naomi, Bristed, Helen

Журнал:

Arts & Health

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 122 KB

english, 2015

First report of dragon fruit stem canker caused by Lasiodiplodia theobromae in Bangladesh

Briste, Preangka Saha, Bhuiyan, MAB, Akanda, Abdul Mannan, Hassan, Oliul, Mahmud, Nur Uddin, Kader, Md Abdul, Chang, Taehyun, Islam, Md. Tofazzal

Журнал:

Plant Disease

Рік:

2019

Мова:

english

Файл:

PDF, 509 KB

english, 2019

What does it feel like to live here? Exploring sensory ethnography as a collaborative methodology for investigating social determinants of health in place

N. Sunderland, H. Bristed, O. Gudes, J. Boddy, M. Da Silva

Журнал:

Health & Place

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 559 KB

english, 2012

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Photomask Technology - Monterey, California (Monday 19 September 2011)] Photomask Technology 2011 - Integrated advanced hotspot analysis techniques in the post-OPC verification flow

Miyagi, Makoto, Brooker, Peter, Sawh, Chander, Brist, Travis, Taravade, Kunal, Maurer, Wilhelm, Abboud, Frank E.

Рік:

2011

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.79 MB

english, 2011

Surface Finish Effects on High-Speed Signal Degradation

Xin Wu,, Cullen, D., Brist, G., Ramahi, O.M.

Журнал:

IEEE Transactions on Advanced Packaging

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 851 KB

english, 2008

[IEEE 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - San Francisco, CA (2006.06.11-2006.06.16)] 2006 IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest - A Practical Method for Modeling PCB Transmission Lines with Conductor Surface Roughness and Wideband Dielectric Properties

Liang, Tao, Hall, Stephen, Heck, Howard, Brist, Gary

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 4.47 MB

english, 2006

High frequency conductor loss impact of oxide and oxide alternative processes

Brist, Gary, Cullen, Don

Журнал:

Circuit World

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 772 KB

english, 2006

Five Years in an English University || Third Year

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.39 MB

english, 2010

Five Years in an English University || Third Year

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Файл:

PDF, 1.39 MB

2010

Incisor caries and primary school tuckshops

J.P.B. Pengelly, U. Brist, J.F.A. Smyth

Журнал:

Public Health

Рік:

1972

Мова:

english

Файл:

PDF, 491 KB

english, 1972

American Criticism; Its Difficulties and Prospects

Charles Astor Bristed

Журнал:

The North American Review

Рік:

1872

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.81 MB

english, 1872

Some Notes on Ellis's Early English Pronunciation

Charles Astor Bristed

Журнал:

Transactions of the American Philological Association (1869-1896)

Рік:

1871

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.92 MB

english, 1871

Erroneous and Doubtful Usages of the Word Such

Charles Astor Bristed

Журнал:

Transactions of the American Philological Association (1869-1896)

Рік:

1872

Мова:

english

Файл:

PDF, 350 KB

english, 1872

Multigigahertz Causal Transmission Line Modeling Methodology Using a 3-D Hemispherical Surface Roughness Approach

Hall, Stephen, Pytel, Steven G., Huray, Paul G., Hua, Daniel, Moonshiram, Anusha, Brist, Gary A., Sijercic, Edin

Журнал:

IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.09 MB

english, 2007

[IEEE 2008 58th Electronic Components and Technology Conference (ECTC 2008) - Lake Buena Vista, FL, USA (2008.05.27-2008.05.30)] 2008 58th Electronic Components and Technology Conference - Analysis of copper treatments and the effects on signal propagation

Pytel, Steven G., Huray, Paul G., Hall, Stephen H., Mellitz, Richard I., Brist, Gary, Meyer, Harry M., Walker, Larry, Garland, Marc

Рік:

2008

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.77 MB

english, 2008

The design and construction of a prototype lateral-transfer retro-reflector for inter-satellite laser ranging

Ward, R L, Fleddermann, R, Francis, S, Mow-Lowry, C, Wuchenich, D, Elliot, M, Gilles, F, Herding, M, Nicklaus, K, Brown, J, Burke, J, Dligatch, S, Farrant, D, Green, K, Seckold, J, Blundell, M, Briste

Журнал:

Classical and Quantum Gravity

Рік:

2014

Мова:

english

Файл:

PDF, 429 KB

english, 2014

[IEEE 2015 16th International Symposium on Quality Electronic Design (ISQED) - Santa Clara, CA, USA (2015.3.2-2015.3.4)] Sixteenth International Symposium on Quality Electronic Design - A novel approach to IC, package and board co-optimization

Brist, Gary, Park, John

Рік:

2015

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.13 MB

english, 2015

SPIE Proceedings [SPIE SPIE 31st International Symposium on Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 19 February 2006)] Design and Process Integration for Microelectronic Manufacturing IV - Impact of process variation on 65nm across-chip linewidth variation

Hong, Le, Brist, Travis, LaCour, Pat, Sturtevant, John, Niehoff, Martin, Niedermaier, Philipp, Wong, Alfred K. K., Singh, Vivek K.

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 357 KB

english, 2006

SPIE Proceedings [SPIE Photomask Technology - Monterey, CA (Monday 13 September 2004)] 24th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology - Integrating RET and mask manufacturability in designs for local interconnect for sub-100-nm trenches

Kachwala, Nishrin, Brist, Travis E., Farnbach, Rick S., Staud, Wolfgang, Weed, J. Tracy

Рік:

2004

Мова:

english

Файл:

PDF, 495 KB

english, 2004

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 24 February 2013)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVII - Design-based metrology for development and manufacturing applications

Brooker, Peter, Lee, Michael, Russel, Ezequiel Vidal, Levi, Shimon, Berthiaume, Sylvain, Stanton, William A., Brist, Travis, Starikov, Alexander, Cain, Jason P.

Рік:

2013

Мова:

english

Файл:

PDF, 871 KB

english, 2013

Radiotherapy-induced miR-223 prevents relapse of breast cancer by targeting the EGF pathway

Fabris, L, Berton, S, Citron, F, D'Andrea, S, Segatto, I, Nicoloso, M S, Massarut, S, Armenia, J, Zafarana, G, Rossi, S, Ivan, C, Perin, T, Vaidya, J S, Avanzo, M, Roncadin, M, Schiappacassi, M, Brist

Журнал:

Oncogene

Рік:

2016

Мова:

english

Файл:

PDF, 5.01 MB

english, 2016

SPIE Proceedings [SPIE Photomask Technology 2005 - Monterey, California (Monday 3 October 2005)] 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology - Reverse engineering source polarization error

Bailey, George E., Weed, J. Tracy, Martin, Patrick M., Adam, Kostas, Brist, Travis, Toublan, Olivier, Estroff, Andrew

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 958 KB

english, 2005

SPIE Proceedings [SPIE SPIE's 27th Annual International Symposium on Microlithography - Santa Clara, CA (Sunday 3 March 2002)] Optical Microlithography XV - OPC applications into embedded-OPC designs

Bailey, George E., Brist, Travis E., Yen, Anthony

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 294 KB

english, 2002

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Microelectronic Manufacturing - Santa Clara, CA (Sunday 23 February 2003)] Design and Process Integration for Microelectronic Manufacturing - Effective multicutline QUASAR illumination optimization for SRAM and logic

Brist, Travis E., Bailey, George E., Starikov, Alexander

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 237 KB

english, 2003

SPIE Proceedings [SPIE SPIE's 27th Annual International Symposium on Microlithography - Santa Clara, CA (Sunday 3 March 2002)] Optical Microlithography XV - Reticle process effects on OPC models

Brist, Travis E., Bailey, George E., Yen, Anthony

Рік:

2002

Мова:

english

Файл:

PDF, 242 KB

english, 2002

SPIE Proceedings [SPIE 26th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology - Monterey, CA (Monday 18 September 2006)] Photomask Technology 2006 - Minimizing yield-loss risks through post-OPC verification

Wang, Ching-Heng, Martin, Patrick M., Naber, Robert J., Liu, Qingwei, Zhang, Liguo, Gao, Gen-Sheng, Brist, Travis E., Donnelly, Tom, Shang, Shumay

Рік:

2006

Мова:

english

Файл:

PDF, 293 KB

english, 2006

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Lithography - San Jose, CA (Sunday 25 February 2007)] Design for Manufacturability through Design-Process Integration - Optimizing gate layer OPC correction and SRAF placement for maximum design manufacturability

Brist, Travis, Wong, Alfred K. K., Singh, Vivek K., Hong, Le, Yehia, Ayman, Tawfik, Tamer, Shang, Shumay, Sakajiri, Kyohei, Sturtevant, John L.

Рік:

2007

Мова:

english

Файл:

PDF, 398 KB

english, 2007

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2005 - San Jose, CA (Sunday 27 February 2005)] Emerging Lithographic Technologies IX - XCEED: XTREME commercial EUV exposure diagnostic experiment

Antonsen, Erik L., Mackay, R. Scott, Thompson, Keith C., Hendricks, Matthew R., Alman, Darren A., Jurczyk, Brian E., Ruzic, David N., Chinh, Tran Duc, Edwards, Ginger, Wurm, Stefan, Wood, Obert, Brist

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 308 KB

english, 2005

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2005 - San Jose, CA (Sunday 27 February 2005)] Design and Process Integration for Microelectronic Manufacturing III - Integrating RET and mask manufacturability in memory designs for local interconnect for sub-100nm trenches

Kachwala, Nishrin, Liebmann, Lars W., Iandolo, Walter, Brist, Travis, Farnbach, Rick

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 589 KB

english, 2005

SPIE Proceedings [SPIE Microlithography 2005 - San Jose, CA (Sunday 27 February 2005)] Optical Microlithography XVIII - Illumination optimization effects on OPC and MDP

Brist, Travis E., Smith, Bruce W., Schulze, Steffen

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 207 KB

english, 2005

SPIE Proceedings [SPIE Photomask Technology 2005 - Monterey, California (Monday 3 October 2005)] 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology - Source polarization and OPC effects on illumination optimization

Brist, Travis, Weed, J. Tracy, Martin, Patrick M., Bailey, George E., Drozdov, Alexander, Torres, Andres, Estroff, Andrew, Hendrickx, Eric

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 342 KB

english, 2005

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California (Sunday 21 February 2010)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIV - Metrology data cleaning and statistical assessment flow for modeling applications

Ward, Brian S., Raymond, Christopher J., Berthiaume, Sylvain, Brist, Travis, Brooker, Peter

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 2.29 MB

english, 2010

SPIE Proceedings [SPIE Advanced Microelectronic Manufacturing - Santa Clara, CA (Sunday 23 February 2003)] Design and Process Integration for Microelectronic Manufacturing - Model-assisted placement of subresolution assist features: experimental results

Brist, Travis E., Torres, Juan A., Starikov, Alexander

Рік:

2003

Мова:

english

Файл:

PDF, 244 KB

english, 2003

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California (Sunday 12 February 2012)] Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXVI - Automated SEM recipe generation for OPC applications

Berthiaume, Sylvain, Brist, Travis, Brooker, Peter, Stanton, William, Ward, Brian, Levi, Shimon, Siany, Amit, Starikov, Alexander

Рік:

2012

Мова:

english

Файл:

PDF, 3.62 MB

english, 2012

SPIE Proceedings [SPIE SPIE Advanced Lithography - San Jose, California, USA (Sunday 22 February 2009)] Optical Microlithography XXII - Efficient hardware usage in the mask tapeout flow

Boman, Mathias, Levinson, Harry J., Dusa, Mircea V., Brist, Travis, Wang, Yongdong

Рік:

2009

Мова:

english

Файл:

PDF, 484 KB

english, 2009

SPIE Proceedings [SPIE Photomask Technology 2005 - Monterey, California (Monday 3 October 2005)] 25th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology - Model-based insertion and optimization of assist features with application to contact layers

Shang, Shumay D., Weed, J. Tracy, Martin, Patrick M., Granik, Yuri, Swallow, Lisa, Zhang, Li-guo, Brist, Travis, Torres, Andres, Hung, Chi-Yuan, Liu, Qingwei

Рік:

2005

Мова:

english

Файл:

PDF, 931 KB

english, 2005

Na V channel variants in patients with painful and nonpainful peripheral neuropathy

Wadhawan, Samir, Pant, Saumya, Golhar, Ryan, Kirov, Stefan, Thompson, John, Jacobsen, Leslie, Qureshi, Irfan, Ajroud-Driss, Senda, Freeman, Roy, Simpson, David M., Smith, A. Gordon, Hoke, Ahmet, Brist

Журнал:

Neurology: Genetics

Рік:

2017

Мова:

english

Файл:

PDF, 825 KB

english, 2017

Five Years in an English University || Freshman Temptations and Experiences—Toryism of the Young Men, and Ideas Suggested by it

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 220 KB

english, 2010

Five Years in an English University || Sawdust Pudding with Ballad Sauce

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 944 KB

english, 2010

Five Years in an English University || PREFACE

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 80 KB

english, 2010

Five Years in an English University || Being Extinguished

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 162 KB

english, 2010

Five Years in an English University || The Second Year

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.30 MB

english, 2010

Five Years in an English University || A Visit to Eton

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 824 KB

english, 2010

Five Years in an English University || The Boat Race

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 268 KB

english, 2010

Five Years in an English University || 'Ev Ξvpoũ 'Akμή

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 745 KB

english, 2010

Five Years in an English University || Introduction to College Life

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 576 KB

english, 2010

Five Years in an English University || A Second Edition of Third Year

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 1.11 MB

english, 2010

Five Years in an English University || First Impressions of Cambridge

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 216 KB

english, 2010

Five Years in an English University || Recent Changes at Cambridge

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 579 KB

english, 2010

Five Years in an English University || Private Tuition

Bristed, Charles Astor

Рік:

2010

Мова:

english

Файл:

PDF, 535 KB

english, 2010