Comparative Study of Active-Over-Metal and Metal-Over-Active Amorphous IGZO Thin-Film Transistors With Low-Frequency Noise Measurements
Tsormpatzoglou, A., Hastas, N.A., Khan, S., Hatalis, M., Dimitriadis, C.A.Том:
33
Рік:
2012
Мова:
english
Сторінки:
3
DOI:
10.1109/led.2012.2185677
Файл:
PDF, 231 KB
english, 2012
File converter
Більше результатів пошуку
More benefits 
