An improved method for extracting the difference between drain and source resistances in MOSFETs
A Ortiz-Conde, F.J Garcia Sanchez, J.J LiouТом:
39
Рік:
1996
Мова:
english
Сторінки:
3
DOI:
10.1016/0038-1101(95)00072-0
Файл:
PDF, 204 KB
english, 1996